半导体推力测试仪采用自动量程设计

　　半导体推力测试仪是微电子和电子制造领域的重要仪器设备，它在测试精度、重复性、可靠性、操控性和外观设计等方面，均达到高的水平。主要是用于微电子封装和PCBA电子组装制造及其失效分析领域的专用动态测试仪器。
 

　　金线是一种贵重金属材料，试样很小，力量很小，并且测试精度要求很高，因此拉力测试机机台要求很高，测试过程中不能有半点漂移，否则就会直接影响到测试结果。该设备广泛应用于现代中、大功率变换器中的主流半导体开关器件，其动态特性决定装置的开关损耗、功率密度、器件应力以及电磁兼容性，直接影响变换器的性能。因此准确测量功率开关元件的动态性能具有极其重要的实际意义。
 

　　半导体推力测试仪具有如下特点：
 

　　1、测试传感器模块大的优化了测试模块适应各种不同类型的测试环境的能力，确保同一测试模块工作在不同主机上测试数据的可靠一致性；
 

　　2、设备所有测试传感器均采用自动量程设计，全量程范围一致的分辨率(16BitPlus超高分辨率)，客户在测试前无需在软件端做繁杂而且耗时的档位设定；
 

　　3、确保精准可靠的测试状态和精密快速的定位动作；
 

　　4、自主研发制造的高频响、高精度动态传感器；
 

　　5、坚固机身设计，机身测试负荷能力高达500KG；
 

　　6、优异的设备操控性能，多方位保护措施，可自由摆放的左右摇杆控制器，操作手感舒适的摇杆控制器。
 

　　适用领域：
 

　　仪器测试迅速、准确、适用面广、测试精度高，适用于半导体IC封装测试、LED封装测试、光电子器件封装测试、PCBA电子组装测试、汽车电子、航空航天、军工等等。亦可用于各种电子分析及研究单位失效分析以及各类院校教学和研究领域。