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推拉力测试机

芯片推拉力测试机

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便携式半导体推力测试仪

更新时间：2023-04-21

型号：

浏览量：701

半导体推力测试仪优化了测试模块，适应不同类型测试环境的能力，保证了同一测试模块在不同主机上工作地测试数据得可靠性、以及一致性。半导体推力测试仪所有测试传感器均采用自动量程设计，全量程分辨率一致，客户不用在测试之前对软件进行复杂耗时地挡位设置。所有测试传感器模块均采用垂直位移定位技术，确保测试的状态可靠，定位地动作快速。可放置得左右摇杆控制器，操作舒适得摇杆控制器。
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SHK-A191芯片推拉力测试仪

更新时间：2023-04-21

型号：SHK-A191

浏览量：645

芯片推拉力测试机采用动态传感采集技术，确保测试数据的精度的真实性；三轴运动平台，双摇杆控制机器操作简单快捷；芯片推拉力测试机采用3D立体传感技术，自动测试功能保证测试精度及数据准确性；只需手动更换相对的测试头即可实现推力及拉力测试功能。
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半导体推力测试机

更新时间：2023-05-26

型号：

浏览量：484

半导体推力测试仪亦可称之为大面积推拉力试验机，可进行拉伸、压缩、弯曲、剥离、撕裂、剪切、刺破、压陷硬度、低周疲劳等各项物理力学试验。还能自动求取大试验力、断裂力、屈服HRb、抗拉强度、弯曲强度，弹性模量、伸长率、定伸长应力、定应力伸长、定应压缩等，故广泛应用于半导体封装、LED封装、智慧卡封装、通讯电子、汽车电子产业及各类研究所、大专院校、电子电路失分析与测试等领域。
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自动芯片推拉力测试机

更新时间：2023-05-26

型号：

浏览量：458

芯片推拉力测试机可进行微电子引线键合后引线焊接强度测试、焊点与基板表面粘接力测试、焊球重复性推力疲劳测试（内引线拉力测试、微焊点推力测试、芯片剪切力测试、SMT焊接元器件推力测试、BGA矩阵整体推力测试）。
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SHK-A191半导体推力测试仪

更新时间：2023-04-20

型号：SHK-A191

浏览量：728

半导体推力测试仪作为一种物理力学性能测试的设备，具备广泛的测试能力，快速和简单的设置，安装在靠近测试头位置，以帮助更快地测试，提高了测试自动化。标准的XY平台为160mm，可满足范围广泛的测试需要，XY平台也可定制。采用直流伺服电机和调速系统集成结构，驱动正时皮带减速机构，减速后驱动杆加载。电气部分包括负荷测量系统和变形测量系统。所有控制参数和测量结果都可以在大屏幕液晶屏上实时显示。具有过载保护、位移测量等功能。
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SHK-A191芯片推拉力测试机

更新时间：2023-04-20

型号：SHK-A191

浏览量：501

芯片推拉力测试机广泛应于与LED封装测试、IC半导体封装测试、TO封装测试、IGBT功率模块封装测试、光电子元器件封装测试、汽车领域、航天航空领域、军工产品测试、研究机构的测试、微电子行业测试及各类院校的测试研究等应用。公司产品有：半导体推力测试仪,半导体推拉力仪器,LED推拉力测试机,LED推拉力测试机,拉伸试验机,自动推拉力测试机,自动推拉力测试机
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SHK-A191芯片推拉力测试机设备

更新时间：2023-04-21

型号：SHK-A191

浏览量：215

芯片推拉力测试机是一种用于测试芯片推拉力的仪器，它可以测量芯片的推拉力，以及芯片的拉伸、压缩、折弯和拉断等性能。它可以测量芯片的推拉力，以及芯片的拉伸、压缩、折弯和拉断等性能。可以快速准确地测量芯片的推拉力，可以检测芯片的拉伸、压缩、折弯和拉断等性能，可以记录测试结果，可以提供准确的测试数据，可以提高芯片的可靠性。
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SHK-A191半导体晶片测试仪

更新时间：2023-04-21

型号：SHK-A191

浏览量：458

半导体晶片测试仪广泛应于与LED封装测试、IC半导体封装测试、TO封装测试、IGBT功率模块封装测试、光电子元器件封装测试、汽车领域、航天航空领域、军工产品测试、研究机构的测试、微电子行业测试及各类院校的测试研究等应用。公司产品有：半导体推力测试仪,半导体推拉力仪器,LED推拉力测试机,LED推拉力测试机,拉伸试验机,自动推拉力测试机,自动推拉力测试机,半导体芯片封装检测设备
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